IMS X射線源測厚儀高壓發(fā)生器維修 XRG100/640

bjtpzd 2026-01-12 13:50:15

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易姆斯IMS5400-TH 白光干涉儀:采用白光干涉技術,可實現(xiàn)nm級厚度測量和多層厚度測量。測量范圍廣,氣隙測量(折射率~1)為 50μm 至 2.1 毫米,玻璃厚度測量(折射率~1.5)為 35μm 至 1.4 毫米。具有高速測量速率,至高可達 6kHz,且測量不受距離影響,即使是移動物體也能獲得穩(wěn)定的nm級厚度值。其傳感器堅固緊湊,配有高度靈活的光纖電纜,電纜長度可達 10 米,控制器可通過 DIN 導軌安裝在控制柜中,可通過 web 界面輕松配置,無需安裝額外軟件。

IMS5200-TH 白光干涉儀:專為快速、高精度在線測量而設計,可測量 1 至 100μm 的涂層厚度,精度達nm級,線性度 <±100nm,還可對多達五層的薄層進行多峰測量。測量速率可在 100Hz 至 24kHz 之間連續(xù)調整。傳感器和控制器在工廠進行協(xié)調和校準,具有緊湊堅固的設計,工作范圍為 ±2mm,可輕松集成到狹窄的生產(chǎn)線中。控制器防護等級為 IP40,傳感器防護等級為 IP65,適用于工業(yè)環(huán)境,也可在潔凈室和真空等特殊環(huán)境中使用。

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