回收閑置靜電發(fā)生器ESD-20G二手價(jià)格20KV放電

凌世	ESD202B	普銳馬	ESD61002TB
泰思特	ESD-30G	索莘	ESD-20K
遠(yuǎn)方	EMS61000-2B

回收閑置靜電發(fā)生器ESD-20G二手價(jià)格20KV放電

靜電放電發(fā)生器ESD-20G ESD-30G ESD-30A 3ctest 泰思特靜電槍
靜電放電發(fā)生器ESD-20G 針對(duì)人體對(duì)物體或兩個(gè)物體之間產(chǎn)生的靜電,可能引起電氣,電子設(shè)備的電路發(fā)生故障,甚至被損壞.所以,模擬靜電放電的測(cè)試在*范圍內(nèi)廣泛地應(yīng)用.智能型靜電放電發(fā)生器*IEC61000-4-2和 GB/T17626.2要求.

回收二手儀器skylarksh云鵲 靜電ESD-2000Q 振鈴波發(fā)生器RWG-6K1
回收二手儀器設(shè)備，skylarksh 上海云鵲，
靜電放電發(fā)生器，ESD-2000Q/ESD-2005Q，ESD-2000/ESD-2005 ， ESD-2000W/ESD-2005W wifi版，HBM-8K，
尖峰電壓發(fā)生器VSG-160S17，
振鈴波發(fā)生器RWG-4K16，
振鈴波發(fā)生器RWG-6K16，
多功能測(cè)試系統(tǒng)LSG-2020HD， LSG-1520HDT，
多功能測(cè)試系統(tǒng)LSG-1020D， LSG-1020DT，LSG-1520HD，
元器件浪涌電流測(cè)試儀 CSG-510，
浪涌監(jiān)測(cè)儀LSG-M10
浪涌耦合/去耦網(wǎng)絡(luò)CDN-5320，
雙波形浪涌/振鈴波發(fā)生器LSG-6K10D
耦合去耦網(wǎng)絡(luò)CDN-5802A，CDN-5802B，
雷擊浪涌發(fā)生器LSG-6K10 ，LSG-1020，
浪涌發(fā)生器LSG-1220-T，
浪涌發(fā)生LSG-6k20，
雷擊浪涌發(fā)生器LSG-1520-T，
雷擊浪涌發(fā)生器LSG-6K10A，
群脈沖發(fā)生器EFT-5k30，EFT-6K16，EFT-5K16，

工頻磁場(chǎng)發(fā)生器PFM-1000，
有貨源的朋友請(qǐng)聯(lián)系，議價(jià)。

手持式靜電放電發(fā)生器EDS 16H 16.5KV EMC模擬發(fā)生器 EDS20H 30H,SESD200 16.5kV靜電槍 SCHLODER 二手放電發(fā)生器,
電磁兼容抗擾度測(cè)試設(shè)備 德國(guó)HlLO-TEST可生產(chǎn)全系列高壓和大電流測(cè)試設(shè)備，同時(shí)也可以生產(chǎn)滿(mǎn)足lEC61000-4系列標(biāo)準(zhǔn)的抗擾度 測(cè)試設(shè)備: SESD200，靜電放電測(cè)試儀滿(mǎn)足lEC61000-4-2 滿(mǎn)足 IEC801-2，lEC61000-4-2，EN61000-4-2要求的測(cè)試。 接觸放電：連續(xù)可調(diào)最高可達(dá)8kV 空氣放電：連續(xù)可調(diào)最高可達(dá)5kV CE-TESTER 一體化設(shè)計(jì)的電磁兼容測(cè)試設(shè)備，用于電磁兼容抗抗度測(cè)試 : ? 微處理器控制，前面板LCD菜單顯示 ? ? ? ? ? ? ? ? 手動(dòng)操作，或設(shè)置生成自動(dòng)執(zhí)行的測(cè)試進(jìn)程 內(nèi)置打印接口，可直接打印測(cè)試報(bào)告 光隔離RS232C接口，可由外部計(jì)算機(jī)對(duì)設(shè)備實(shí)現(xiàn)遠(yuǎn)程控制 其中包括 電快速瞬變 滿(mǎn)足 IEC 61000-4-4,EN61000-4-4,VDE 0847-4-4 浪涌 滿(mǎn)足 lEC 61000-4-5,EN610004-5,VDE 08474-4-5 工頻磁場(chǎng) 滿(mǎn)足 lEC 61000-4-8,EN 610004-8,VDE 0847-4-8 脈沖磁場(chǎng) 8/20μs 滿(mǎn)足 lEC 61000-4-9,EN 610004-9,VDE 0847-4-9 電壓跌落與變化 滿(mǎn)足 lEC 61000-4-11 ,EN610004-11 ,VDE 0847-4-11 CE-TESTER也可區(qū)分為以下單元分別應(yīng)用，該單元可在將來(lái)輕松升級(jí)為完整的CE-TEST系統(tǒng): CE-TESTER 1 包括電快速瞬變和浪涌 將來(lái)可提供電壓跌落與變化測(cè)試升級(jí) CE-SURGE 1 只包括浪涌 將來(lái)可提供電快速瞬變和電壓跌落與變化測(cè)試升級(jí) CE-SURGE2 包括浪涌和電壓跌落與變化測(cè)試 將來(lái)可提供電快速瞬變和電壓跌落與變化測(cè)試升級(jí) EFTG4510 電快速瞬變測(cè)試儀 滿(mǎn)足 lEC61000-4-4 所要求的測(cè)試 波形:5/50ns，0.2－4.4kV,脈沖頻率為1kHz-1MHz 可通過(guò)光隔離RS232進(jìn)行控制 CE-SURGE 混合法形發(fā)生器 滿(mǎn)足 lEC61000-4-5，lEEE587，VDE0847-4-5所要求的測(cè)試。 波形為 :電壓1.2/50us 電流為8/20us 可通過(guò)光隔離 RS232 進(jìn)行控制