無損探傷儀-無損探傷儀
面議元2023-01-25 00:37:39
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孫光紅
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| 類別 | 黃頁 儀器儀表網(wǎng) | 來源 | 經(jīng)紀人 |
無損探傷儀-無損探傷儀
View X高解析度X光無損探傷儀主要使用于BGA、CSP、flip chip、半導內(nèi)部以及多層電路板的質(zhì)量檢測，并能快捷清晰地檢測電路板的焊接情況，特別適用生產(chǎn)過程的質(zhì)量檢測和返修后的質(zhì)量檢測。 View X為X光機系列中的一組或稱為手動型探傷儀，它包括一個基于Windows系統(tǒng)平臺的工作臺（View X -1000），并配有圖像多樣采集功能，能夠做到圖像同步采集與分析。View X光機完全體現(xiàn)了Scienscope設計中的集使用簡便、圖像清晰、價格美麗的完美理念。 1、高可達130千伏，5微米聚焦的X光管能產(chǎn)生125倍的幾何放大率，再加上電腦放大可以達到1000倍的放大率。2、觀察范圍可從1.5毫米至50毫米。3、采用激光筆輔助樣品定位。4、X光管的Z軸可動控制（FOV和放大率控制）。5、X光管探測器的Z軸可動控制（FOV和放大率控制）。6、載物臺可作±60°傾斜。
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