霍爾效應測試儀的優(yōu)勢

? 霍爾效應測試儀主要由恒定電流源，范德堡定律終端轉換器，低溫（77K）測量系統(tǒng)和磁場強度輸入系統(tǒng)組成。它具有用于研究半導體材料的霍爾效應的所有組件和配置。它是一套非常成熟的儀器系統(tǒng)。

? ?霍爾效應測試儀主要用于測量重要參數(shù)，例如載流子濃度，遷移率，電阻率和半導體材料的霍爾系數(shù)。必須事先控制這些參數(shù)，以了解半導體材料的電特性。因此，霍爾效應測試儀是可以理解的，并且是研究半導體器件和半導體材料的電性能的必備工具。可測試材料：半導體材料：SiGe，SiC，InAs，InGaAs，InP，AlGaAs，和鐵氧體材料等；低阻抗材料：石墨烯，金屬，透明氧化物，弱磁半導體材料，TMR材料等；高阻抗材料：半絕緣GaAs，GaN，CdTe等。

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? 1.可靠的準確性和可重復性。恒流源采用六電平電流范圍設置，以最大程度地減少可接收的偏差； Van der Pauw的規(guī)則轉換使用非接觸式設備來有效下降儀器噪音。軟件和硬件經過專門設計，以確保每個實驗數(shù)據都是多次。測試的平均值使儀器具有很好的數(shù)據可重復性。

? 2.產品小型化，操作簡單。小型磁場強度輸入系統(tǒng)使用永磁體和液氮低溫測量系統(tǒng)（77K），以確保儀器操作非常簡單； 兩種不同尺寸的傳統(tǒng)樣品板（20 * 20mm，6 * 6mm）可制成不同尺寸和不同材料的薄膜。樣品更易于測量。

? 3.各種實驗結果。霍爾效應測試儀實驗結果由軟件自動計算，可以同時獲得載流子濃度，表層載流子濃度，遷移率，電阻率，霍爾系數(shù)等。

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